主要规格及技术指标

"全自动电子光学系统。高分辨率丶高效率

ZEROMAG輕鬆放大到X100,000倍

全自动电子枪无缝自主栅偏压和消像散的自动记忆功能均自动实现。二次电子探测器：3.0nm（30kV），15nm（1kV），背散射电子探测器4.0nm（30kv） 既保证高电压下的高分辨率，也可提供低电压下高质量的图像。

全新的zeromag 导航模式，可以在扫描电镜上进行直接的光学放大，并直接过度到电子光学照片而不需要图像切换。全自动的聚焦衬度系统。

LIVE ANALYSIS功能提高了元素分析效率

实时分析～SEM和EDS一体化集成～

利用Live Analysis 功能可以不必再分别考虑高倍率观察和EDS分析。在观察屏幕上可以随时显示分析区域内的特征X射线谱图以及自动定性的主要构成元素。

大面积一体化EDS，可以在同一台电脑上实现SEM 观察与EDS 分析，并且可以在SEM 观察的同时同步进行EDS 分析

数据集中管理软件SMILE VIEW™ ～无缝创建报告〜

JSM-IT200操做简单丶性能

SMILE VIEW™ Lab是能集中管理与样品台位置联动的CCD图像、SEM图像、EDS分析结果等数据并快速生成报告的数据管理器。查看以前获得的数据、重新分析，生成报告等都能简便地进行。"

主要附件及配置

无

主要功能及特色

可应用于陶瓷材料分析、金属材料失效分析。在石油、地质、矿物领域，电子、半导体领域，医学、生物学领域，化工、高分子材料领域