主要规格及技术指标

"光谱分辨率：<1.5cm-1（检测条件：采用氖灯测量，100×物镜，1800 线光栅，+1 级衍射；测量氖
灯谱线585nm 半高宽，全半高宽（FWHM）:<1.5cm-1）；光谱重复性：优于±0.1cm-1（检验方法：使用表面抛光的单晶硅样品，50×物镜，光谱范围50～
3500cm-1，重复20 次。观测硅一阶拉曼峰（520cm-1），520 峰中心位置重复性≤±0.1 cm-1）"

主要附件及配置

无

主要功能及特色

用于无机材料、高分子、储能材料、功能复合材料分子结构分析，可扩展原位检测。