射频探针台
射频探针台
仪器编号
20186226
规格
SEMIPROBE
生产厂家
SEMIPROBE
型号
M6
制造国家
840
购置日期
2018-05-04
放置地点
1B110
出厂日期
2018-05-04

主要规格及技术指标

最高支持67G Hz的测量,射频探针可满足最小25 μm x 35 μm PAD 测量的要求

主要附件及配置

主要功能及特色

器件性能、MEMS、光电子学、纳米研究、光伏电池、失效分析及材料等相关领域

公告名称 公告内容 发布日期