透射电子显微镜
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联系人
杨克勤
生产厂家
日本电子
邮箱
kyang107@wzu.edu.cn
型号
JEM-2100
电话
13506576034
购买日期
2010/09/01
主要规格和技术参数
1、 电子枪:肖特基场发射电子枪2、 点分辨率:≤0.19 nm3、 线分辨率:≤0.102 nm4、加速电压: 80, 100, 120, 160, 200 kV (100 V/步可调)5、加速电压稳定度:≤2ppm/min (峰峰值)6、 物镜最小聚焦步长:≤1.8nm7、 物镜球差系数:≤1. 2mm8、 色差系数:≤1.4mm9、物镜电流稳定性:≤2 ppm/min10、 最小束斑尺寸:透射模式(TEM): 2 nm; 微区分析模式
主要功能及特色
加速电压: 200 KV; 场发射电子枪; TEM点分辨率:0.19 nm;线分辨率0.14nm ; STEM分辨率: 0.16 nm; 样品倾斜角度X/Y:±25°; 能谱能量分辨率:136 ev; 元素检测范围:B~U元素。对金属、陶瓷、半导体、塑料、纳米颗粒等各种材料进行超微结构观察; . 粉末、纳米颗粒形貌和粒径观察; 选区电子衍射和晶体结构分析; 配合能谱仪可对样品元素进行点、线、面分析;
主要附件及配置
硅纸,机械泵油,真空脂,滤芯等